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	IGBT老化状态检测系统
	周雒维[1]; 彭英舟[1]; 张晏铭[1]; 蔡杰[1]; 王凯宏[1]; 孙鹏菊[1]; 杜雄[1]
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内容类型	专利
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/3085722
专题	重庆大学
推荐引用方式 GB/T 7714	周雒维[1],彭英舟[1],张晏铭[1],等. IGBT老化状态检测系统.

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