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	基于STM32电压质量检测装置的研究
	李珂[1]; 唐基超[1]; 雒佳明[1]
	2018
卷号	0页码:18-19
URL标识	查看原文
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/3069564
专题	重庆大学
推荐引用方式 GB/T 7714	李珂[1],唐基超[1],雒佳明[1]. 基于STM32电压质量检测装置的研究[J],2018,0:18-19.
APA	李珂[1],唐基超[1],&雒佳明[1].(2018).基于STM32电压质量检测装置的研究.,0,18-19.
MLA	李珂[1],et al."基于STM32电压质量检测装置的研究".0(2018):18-19.

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