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	基于特定集电极电流下饱和压降的IGBT模块老化失效状态监测方法 Condition Monitoring for IGBT Module Aging Failure on VCE(on)under Certain IC Conditions
	李亚萍[1,2]; 周雒维[1]; 孙鹏菊[1]; 彭英舟[1]; 蔡杰[1]
	2018
卷号	33页码:3202-3212
URL标识	查看原文
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/3047341
专题	重庆大学
推荐引用方式 GB/T 7714	李亚萍[1,2],周雒维[1],孙鹏菊[1],等. 基于特定集电极电流下饱和压降的IGBT模块老化失效状态监测方法 Condition Monitoring for IGBT Module Aging Failure on VCE(on)under Certain IC Conditions[J],2018,33:3202-3212.
APA	李亚萍[1,2],周雒维[1],孙鹏菊[1],彭英舟[1],&蔡杰[1].(2018).基于特定集电极电流下饱和压降的IGBT模块老化失效状态监测方法 Condition Monitoring for IGBT Module Aging Failure on VCE(on)under Certain IC Conditions.,33,3202-3212.
MLA	李亚萍[1,2],et al."基于特定集电极电流下饱和压降的IGBT模块老化失效状态监测方法 Condition Monitoring for IGBT Module Aging Failure on VCE(on)under Certain IC Conditions".33(2018):3202-3212.

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