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	用极化晶体谱仪探测X射线极化度 Measurement of Polarization of X-ray with Polarization Spectrometer
	施军[1]; 肖沙里[1]; 王洪建[1]; 唐昶环[2]; 钱家渝[1]
	2009
卷号	38页码:396-400
URL标识	查看原文
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2999600
专题	重庆大学
推荐引用方式 GB/T 7714	施军[1],肖沙里[1],王洪建[1],等. 用极化晶体谱仪探测X射线极化度 Measurement of Polarization of X-ray with Polarization Spectrometer[J],2009,38:396-400.
APA	施军[1],肖沙里[1],王洪建[1],唐昶环[2],&钱家渝[1].(2009).用极化晶体谱仪探测X射线极化度 Measurement of Polarization of X-ray with Polarization Spectrometer.,38,396-400.
MLA	施军[1],et al."用极化晶体谱仪探测X射线极化度 Measurement of Polarization of X-ray with Polarization Spectrometer".38(2009):396-400.

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