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	基于频率响应的IGBT模块内部缺陷诊断 Internal Defects Diagnosis of IGBT Module Based on Frequency Response
	周生奇[1]; 周雒维[1]; 孙鹏菊[1]; 吴军科[1]; 李亚萍[1]
	2013
卷号	39页码:2670-2677
URL标识	查看原文
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2999276
专题	重庆大学
推荐引用方式 GB/T 7714	周生奇[1],周雒维[1],孙鹏菊[1],等. 基于频率响应的IGBT模块内部缺陷诊断 Internal Defects Diagnosis of IGBT Module Based on Frequency Response[J],2013,39:2670-2677.
APA	周生奇[1],周雒维[1],孙鹏菊[1],吴军科[1],&李亚萍[1].(2013).基于频率响应的IGBT模块内部缺陷诊断 Internal Defects Diagnosis of IGBT Module Based on Frequency Response.,39,2670-2677.
MLA	周生奇[1],et al."基于频率响应的IGBT模块内部缺陷诊断 Internal Defects Diagnosis of IGBT Module Based on Frequency Response".39(2013):2670-2677.

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