直流高压下GIS支柱绝缘子表面电荷积聚特性 Charge Accumulation on Post Insulator Surface Under HVDC in GIS | |
王邸博[1]; 唐炬[1,2]; 刘凯[1] | |
2015 | |
卷号 | 41页码:3073-3081 |
URL标识 | 查看原文 |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2993250 |
专题 | 重庆大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 王邸博[1],唐炬[1,2],刘凯[1]. 直流高压下GIS支柱绝缘子表面电荷积聚特性 Charge Accumulation on Post Insulator Surface Under HVDC in GIS[J],2015,41:3073-3081. |
APA | 王邸博[1],唐炬[1,2],&刘凯[1].(2015).直流高压下GIS支柱绝缘子表面电荷积聚特性 Charge Accumulation on Post Insulator Surface Under HVDC in GIS.,41,3073-3081. |
MLA | 王邸博[1],et al."直流高压下GIS支柱绝缘子表面电荷积聚特性 Charge Accumulation on Post Insulator Surface Under HVDC in GIS".41(2015):3073-3081. |
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