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	直流高压下GIS支柱绝缘子表面电荷积聚特性 Charge Accumulation on Post Insulator Surface Under HVDC in GIS
	王邸博[1]; 唐炬[1,2]; 刘凯[1]
	2015
卷号	41页码:3073-3081
URL标识	查看原文
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2993250
专题	重庆大学
推荐引用方式 GB/T 7714	王邸博[1],唐炬[1,2],刘凯[1]. 直流高压下GIS支柱绝缘子表面电荷积聚特性 Charge Accumulation on Post Insulator Surface Under HVDC in GIS[J],2015,41:3073-3081.
APA	王邸博[1],唐炬[1,2],&刘凯[1].(2015).直流高压下GIS支柱绝缘子表面电荷积聚特性 Charge Accumulation on Post Insulator Surface Under HVDC in GIS.,41,3073-3081.
MLA	王邸博[1],et al."直流高压下GIS支柱绝缘子表面电荷积聚特性 Charge Accumulation on Post Insulator Surface Under HVDC in GIS".41(2015):3073-3081.

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