低气压下绝缘子串直流污闪放电模型及验证 DC Pollution Flashover Model and Its Validation of Polluted Insulator Strings Under Low Air Pressure | |
张志劲[1]; 蒋兴良[1]; 孙才新[1]; 胡建林[1]; 苑吉河[1] | |
2010 | |
卷号 | 36页码:2126-2131 |
URL标识 | 查看原文 |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2991746 |
专题 | 重庆大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 张志劲[1],蒋兴良[1],孙才新[1],等. 低气压下绝缘子串直流污闪放电模型及验证 DC Pollution Flashover Model and Its Validation of Polluted Insulator Strings Under Low Air Pressure[J],2010,36:2126-2131. |
APA | 张志劲[1],蒋兴良[1],孙才新[1],胡建林[1],&苑吉河[1].(2010).低气压下绝缘子串直流污闪放电模型及验证 DC Pollution Flashover Model and Its Validation of Polluted Insulator Strings Under Low Air Pressure.,36,2126-2131. |
MLA | 张志劲[1],et al."低气压下绝缘子串直流污闪放电模型及验证 DC Pollution Flashover Model and Its Validation of Polluted Insulator Strings Under Low Air Pressure".36(2010):2126-2131. |
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