染污绝缘子串直流污闪放电模型及验证 DC Pollution Flashover Model and Its Validation of Polluted Insulator Strings | |
张志劲[1]; 蒋兴良[1]; 孙才新[1]; 胡建林[1]; 苑吉河[1] | |
2009 | |
卷号 | 24页码:36-41 |
URL标识 | 查看原文 |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2988709 |
专题 | 重庆大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 张志劲[1],蒋兴良[1],孙才新[1],等. 染污绝缘子串直流污闪放电模型及验证 DC Pollution Flashover Model and Its Validation of Polluted Insulator Strings[J],2009,24:36-41. |
APA | 张志劲[1],蒋兴良[1],孙才新[1],胡建林[1],&苑吉河[1].(2009).染污绝缘子串直流污闪放电模型及验证 DC Pollution Flashover Model and Its Validation of Polluted Insulator Strings.,24,36-41. |
MLA | 张志劲[1],et al."染污绝缘子串直流污闪放电模型及验证 DC Pollution Flashover Model and Its Validation of Polluted Insulator Strings".24(2009):36-41. |
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