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	低气压下XZP／XZWP4-160直流绝缘子覆冰闪络特性研究 STUDY ON FLASHOVER MECHANISM OF XZP/XZWP4-160 DC INSULATOR UNDER ICING AND LOW ATMOSPHERIC PRESSURE CONDITIONS
	蒋兴良 [1]; 武利会 [2]; 司马文霞 [1]; 舒立春 [1]; 孙才新 [1]
	2004
卷号	24页码:111-115
URL标识	查看原文
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2987651
专题	重庆大学
推荐引用方式 GB/T 7714	蒋兴良 [1],武利会 [2],司马文霞 [1],等. 低气压下XZP／XZWP4-160直流绝缘子覆冰闪络特性研究 STUDY ON FLASHOVER MECHANISM OF XZP/XZWP4-160 DC INSULATOR UNDER ICING AND LOW ATMOSPHERIC PRESSURE CONDITIONS[J],2004,24:111-115.
APA	蒋兴良 [1],武利会 [2],司马文霞 [1],舒立春 [1],&孙才新 [1].(2004).低气压下XZP／XZWP4-160直流绝缘子覆冰闪络特性研究 STUDY ON FLASHOVER MECHANISM OF XZP/XZWP4-160 DC INSULATOR UNDER ICING AND LOW ATMOSPHERIC PRESSURE CONDITIONS.,24,111-115.
MLA	蒋兴良 [1],et al."低气压下XZP／XZWP4-160直流绝缘子覆冰闪络特性研究 STUDY ON FLASHOVER MECHANISM OF XZP/XZWP4-160 DC INSULATOR UNDER ICING AND LOW ATMOSPHERIC PRESSURE CONDITIONS".24(2004):111-115.

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