Thermal Resistor and Capacitor Parameter Identification Using Cooling Curve of IGBT Module | |
Zhang, Jun[1]; Du, Xiong[1]; Zheng, Shuai[1]; Tai, Heng-Ming[2] | |
会议日期 | MAR 04-08, 2018 |
会议地点 | San Antonio, TX |
URL标识 | 查看原文 |
内容类型 | 会议论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2980705 |
专题 | 重庆大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Zhang, Jun[1],Du, Xiong[1],Zheng, Shuai[1],et al. Thermal Resistor and Capacitor Parameter Identification Using Cooling Curve of IGBT Module[C]. 见:. San Antonio, TX. MAR 04-08, 2018. |
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