Thermal lifetime estimation method of IGBT module considering solder fatigue damage feedback loop | |
Gao, Bing[1]; Yang, Fan[1]; Chen, Minyou[1]; Chen, Yigao[2]; Lai, Wei[1]; Liu, Chao[3] | |
2018 | |
卷号 | 82页码:51-61 |
URL标识 | 查看原文 |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2978801 |
专题 | 重庆大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Gao, Bing[1],Yang, Fan[1],Chen, Minyou[1],et al. Thermal lifetime estimation method of IGBT module considering solder fatigue damage feedback loop[J],2018,82:51-61. |
APA | Gao, Bing[1],Yang, Fan[1],Chen, Minyou[1],Chen, Yigao[2],Lai, Wei[1],&Liu, Chao[3].(2018).Thermal lifetime estimation method of IGBT module considering solder fatigue damage feedback loop.,82,51-61. |
MLA | Gao, Bing[1],et al."Thermal lifetime estimation method of IGBT module considering solder fatigue damage feedback loop".82(2018):51-61. |
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