| Anomalous Capacitance-Voltage Hysteresis in MOS Devices with ZrO2 and HfO2 Dielectrics | |
| Lu, Qifeng; Qi, Yanfei; Zhao, Ce Zhou; Zhao, Chun; Taylor, Stephen; Chalker, Paul R. | |
| 2016 | |
| 关键词 | capacitance-voltage characteristics interface dipoles hysteresis |
| 会议录 | 2016 5TH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON NEXT-GENERATION ELECTRONICS (ISNE)
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| URL标识 | 查看原文 |
| ISSN号 | 2378-8593 |
| 内容类型 | 会议论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2951540 |
| 专题 | 西安交通大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Lu, Qifeng,Qi, Yanfei,Zhao, Ce Zhou,et al. Anomalous Capacitance-Voltage Hysteresis in MOS Devices with ZrO2 and HfO2 Dielectrics[C]. 见:. |
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