Crystal growth of Ge2Sb2Te5 at high temperatures | |
Ronneberger, I.; Zhang, W.; Mazzarello, R. | |
刊名 | MRS Communications
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2018 | |
卷号 | 8页码:1018-1023 |
关键词 | Ab initio molecular dynamics Electronic storage devices Finite size effect High temperature Metadynamics State of the art Storage-class memory Temperature dependent behavior |
ISSN号 | 2159-6859 |
URL标识 | 查看原文 |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2921336 |
专题 | 西安交通大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Ronneberger, I.,Zhang, W.,Mazzarello, R.. Crystal growth of Ge2Sb2Te5 at high temperatures[J]. MRS Communications,2018,8:1018-1023. |
APA | Ronneberger, I.,Zhang, W.,&Mazzarello, R..(2018).Crystal growth of Ge2Sb2Te5 at high temperatures.MRS Communications,8,1018-1023. |
MLA | Ronneberger, I.,et al."Crystal growth of Ge2Sb2Te5 at high temperatures".MRS Communications 8(2018):1018-1023. |
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