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	Modeling the Gate Driver IC for GaN Transistor: A Black-Box Approach
	Xie, Ruiliang; Xu, Guangzhao; Yang, Xu; Tang, Gaofei; Wei, Jin; Tian, Yidong; Zhang, Feng; Chen, Wenjie; Wang, Laili; Chen, Kevin J.
	2018
关键词	gate driver IC modeling black-box approach GaN transistor
页码	2900-2904
会议录	THIRTY-THIRD ANNUAL IEEE APPLIED POWER ELECTRONICS CONFERENCE AND EXPOSITION (APEC 2018)
URL标识	查看原文
ISSN号	1048-2334
内容类型	会议论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2917755
专题	西安交通大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Xie, Ruiliang,Xu, Guangzhao,Yang, Xu,et al. Modeling the Gate Driver IC for GaN Transistor: A Black-Box Approach[C]. 见:.

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