存储器错误检测方法及装置 | |
叶甜春![]() | |
2018-05-15 | |
著作权人 | 中国科学院微电子研究所 |
专利号 | CN201510729616.7 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 一种存储器错误检测装置,在同一个芯片上包括控制装置、存储器单元阵列、页缓冲器、错误检测单元以及IO缓冲器,错误检测单元位于页缓冲器与IO缓冲器之间用于在控制装置的控制下对存储器单元阵列中的错误进行检测。依照本发明的存储器错误检测方法及装置,在页缓冲器和IO缓冲器之间插入错误检测单元,在存储器进行编程和擦除操作之后实现内部错误检测操作,获取错误存储单元信息,简易快速并低成本实现了错误检测。 |
公开日期 | 2016-02-03 |
申请日期 | 2015-10-30 |
语种 | 中文 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://159.226.55.107/handle/172511/18725] ![]() |
专题 | 微电子研究所_存储器研发中心 |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 叶甜春. 存储器错误检测方法及装置. CN201510729616.7. 2018-05-15. |
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