Charge pumping test technique using CMOS ring oscillator on leakage issue | |
Zhao C(赵超)![]() ![]() ![]() | |
刊名 | Microelectronics Journal
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2017-08-20 | |
文献子类 | 期刊论文 |
语种 | 英语 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://159.226.55.106/handle/172511/18116] ![]() |
专题 | 微电子研究所_集成电路先导工艺研发中心 |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Zhao C,Liu YB,Zhu ZY,et al. Charge pumping test technique using CMOS ring oscillator on leakage issue[J]. Microelectronics Journal,2017. |
APA | Zhao C,Liu YB,Zhu ZY,Zhu HL,Wan GX,&Li JF.(2017).Charge pumping test technique using CMOS ring oscillator on leakage issue.Microelectronics Journal. |
MLA | Zhao C,et al."Charge pumping test technique using CMOS ring oscillator on leakage issue".Microelectronics Journal (2017). |
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