Charge pumping test technique using CMOS ring oscillator on leakage issue

	Charge pumping test technique using CMOS ring oscillator on leakage issue
	Zhao C(赵超); Liu YB(刘勇波); Zhu ZY(朱正勇); Zhu HL(朱慧珑); Wan GX(万光星); Li JF(李俊峰)
刊名	Microelectronics Journal
	2017-08-20
文献子类	期刊论文
语种	英语
内容类型	期刊论文
源URL	[http://159.226.55.106/handle/172511/18116]
专题	微电子研究所_集成电路先导工艺研发中心
作者单位	中国科学院微电子研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	Zhao C,Liu YB,Zhu ZY,et al. Charge pumping test technique using CMOS ring oscillator on leakage issue[J]. Microelectronics Journal,2017.
APA	Zhao C,Liu YB,Zhu ZY,Zhu HL,Wan GX,&Li JF.(2017).Charge pumping test technique using CMOS ring oscillator on leakage issue.Microelectronics Journal.
MLA	Zhao C,et al."Charge pumping test technique using CMOS ring oscillator on leakage issue".Microelectronics Journal (2017).