隧穿场效应晶体管及其形成方法
许淼; 朱正勇; 朱慧珑
2013-10-30
著作权人中国科学院微电子研究所
国家中国
文献子类发明
英文摘要本发明提供了一种隧穿场效应晶体管,包括:半导体衬底,所述半导体衬底上形成有鳍;第一栅极和第二栅极,分别形成在所述鳍两侧的半导体衬底之上,在所述第一栅极与鳍的第一侧面及半导体衬底之间,以及在所述第二栅极与鳍的第二侧面及半导体之间具有栅介质层;第一掺杂区和第二掺杂区,分别位于第一栅极和第二栅极一侧的半导体衬底中。本发明通过控制鳍的宽窄来实现窄隧穿结,提高了隧穿电流,并通过增大有效隧穿面积进一步提高导通电流。此外,还可以抑制与缺陷相关的漏电流,改善器件的亚阈值特性。
内容类型专利
源URL[http://159.226.55.106/handle/172511/17882]  
专题微电子研究所_集成电路先导工艺研发中心
推荐引用方式
GB/T 7714
许淼,朱正勇,朱慧珑. 隧穿场效应晶体管及其形成方法. 2013-10-30.
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