题名 | 高k栅介质/金属栅结构CMOS器件的平带电压偏移的研究 |
作者 | 王晓磊 |
答辩日期 | 2013-03 |
文献子类 | 博士 |
授予单位 | 中国科学院大学 |
导师 | 王文武 ; 叶甜春 |
学位专业 | 微电子学与固体电子学 |
内容类型 | 学位论文 |
源URL | [http://159.226.55.106/handle/172511/17212] ![]() |
专题 | 微电子研究所_集成电路先导工艺研发中心 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 王晓磊. 高k栅介质/金属栅结构CMOS器件的平带电压偏移的研究[D]. 中国科学院大学. 2013. |
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