一种钽铝氮金属栅的制备方法
徐秋霞; 许高博
2009-02-09
著作权人中国科学院微电子研究所
国家中国
文献子类发明专利
英文摘要本发明公开了一种钽铝氮金属栅的制备方法,该方法包括:清洗硅片;对清洗后的硅片进行淀积前氧化;在氧化后的硅片上淀积高介电常数栅介质;在高介电常数栅介质上淀积氮化铝/氮化钽叠层金属栅;对淀积了氮化铝/氮化钽叠层金属栅的硅片进行超声清洗;对清洗后的硅片进行金属栅淀积后退火,形成钽铝氮金属栅;背面溅铝并进行合金处理。利用本发明制备的钽铝氮金属栅,由于铝的引入有助于金属栅平带电压向正向漂移,即有助于P型金属氧化物半导体场效应晶体管金属栅功函数的调节。 
公开日期2016-03-18
状态公开
内容类型专利
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/14571]  
专题微电子研究所_集成电路先导工艺研发中心
推荐引用方式
GB/T 7714
徐秋霞,许高博. 一种钽铝氮金属栅的制备方法. 2009-02-09.
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