| 一种位线选通装置等效电阻的测试系统及其方法 | |
| 陈岚; 陈巍巍; 龙爽; 杨诗洋 | |
| 2011-11-30 | |
| 著作权人 | 中国科学院微电子研究所 |
| 文献子类 | 发明 |
| 英文摘要 | 一种位线选通装置等效电阻的测试系统及其方法，该系统包括四条连续的位线，每条位线连接一个选通装置，四个选通装置相同，所述四个选通装置分别为：第一选通装置、第二选通装置、第三选通装置以及第四选通装置，多个存储单元，每个存储单元与相邻的两条所述位线相邻，还包括：选通控制装置、高电平提供装置、低电平提供装置、第一电压测试装置、第二电压测试装置、第一电流测试装置、电阻测试装置、计算单元。本发明实施例通过选取连续四条位线实现对存储单元的读写操作，并选择其中两端的位线作为选通装置的电压测试端，能够准确获取选通装置的等效电阻，实现对选通装置的性能优劣进行评估，进而提高对存储单元进行读写操作的准确度。 |
| 状态 | 公开 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://159.226.55.106/handle/172511/15854]  |
| 专题 | 微电子研究所_EDA中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈岚,陈巍巍,龙爽,等. 一种位线选通装置等效电阻的测试系统及其方法. 2011-11-30. |
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