CORC  > 微电子研究所  > 中国科学院微电子研究所  > EDA中心
一种模拟集成电路设计优化方法
陈岚; 吴玉平; 叶甜春
2013-03-06
著作权人中国科学院微电子研究所
专利号CN201010214142.X
国家中国
文献子类发明专利
英文摘要

本发明涉及一种模拟集成电路设计优化方法,属于集成电路设计自动化领域。该方法包括:输入电路网表、性能设计指标以及性能测试电路;确定基于方程的电路优化的各指标项目标优化值、排除了器件本身之外的寄生效应的基于电路仿真器的电路优化的各指标项目标优化值、以及考虑电路物理连线寄生效应的基于电路仿真器的电路优化的各指标项目标优化值;进行基于方程的电路优化;进行基于电路仿真器的电路优化;进行基于电路仿真器的电路优化。本发明可提高电路评测的可信度,提高优化速度,从而降低电路设计和物理设计之间的地带次数,提高设计效率,缩短设计周期。

公开日期2012-01-11
申请日期2010-06-30
语种中文
内容类型专利
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/13740]  
专题微电子研究所_EDA中心
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
陈岚,吴玉平,叶甜春. 一种模拟集成电路设计优化方法. CN201010214142.X. 2013-03-06.
个性服务
查看访问统计
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。


©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by CSpace