一种物理版图仿真自动控制寄生参数提取精度的方法

	一种物理版图仿真自动控制寄生参数提取精度的方法
	陈岚; 吴玉平; 叶甜春
	2013-07-31
著作权人	中国科学院微电子研究所
专利号	CN201010236533.1
国家	中国
文献子类	发明专利
英文摘要	本发明公开一种物理版图仿真自动控制寄生参数提取精度的方法，属于集成电路设计自动化领域。本发明利用电路级前仿真结果作为输入，分析出信号的变化频率和变化幅度，再对器件和线网进行分类，确定敏感线网和敏感器件及主要噪声源器件和噪声源线网，利用LVS原理定位器件和物理线网，据此对提取区域的精度控制进行分类，从而支持对不同区域采取不同的精度控制提取寄生参数。本发明可有效地缩小计算规模、提高寄生参数提取精度和提高后续电路仿真速度，又不失后续电路仿真的准确性。
公开日期	2012-02-01
申请日期	2010-07-26
语种	中文
内容类型	专利
源URL	[http://10.10.10.126/handle/311049/13718]
专题	微电子研究所_EDA中心
作者单位	中国科学院微电子研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	陈岚,吴玉平,叶甜春. 一种物理版图仿真自动控制寄生参数提取精度的方法. CN201010236533.1. 2013-07-31.