一种基于字线分割的存储器多位翻转的检测方法

	一种基于字线分割的存储器多位翻转的检测方法
	杨献; 谢朝辉; 刘海南; 蒋见花; 黑勇; 周玉梅
	2016-01-13
著作权人	中国科学院微电子研究所
专利号	CN201310211747.7
国家	中国
文献子类	发明专利
英文摘要	本发明公开了一种基于字线分割的存储器多位翻转的检测方法，该方法包括：选择粒子流速以及测试时间；FPGA板向存储器注入测试激励；以及存储器将反馈得到的数据通过串口回传到PC机，得到在存储器中所发生多位翻转的位置。利用本发明，通过测试板回传的数据就可以清楚的得到每次翻转所发生的地址和比特位置。
公开日期	2013-09-04
申请日期	2013-05-31
语种	中文
内容类型	专利
源URL	[http://159.226.55.106/handle/172511/16454]
专题	微电子研究所_智能感知研发中心
作者单位	中国科学院微电子研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	杨献,谢朝辉,刘海南,等. 一种基于字线分割的存储器多位翻转的检测方法. CN201310211747.7. 2016-01-13.