| 基于N1dB压缩点和N2dB压缩点的三阶交调测试方法; 基于N1dB压缩点和N2dB压缩点的三阶交调测试方法 | |
| 于进勇; 张晓飞; 阎跃鹏; 赵志儒 | |
| 2011-12-05 | |
| 著作权人 | 中国科学院微电子研究所 |
| 专利号 | CN102628897 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明 |
| 英文摘要 | 本发明提供了一种基于N1dB压缩点和N2dB压缩点的三阶交调测试方法，这种方法利用公式算法的方式，大大降低了三阶交调参数的测试成本，缩短了测试时间，简化了测试流程。 |
| 公开日期 | 2012-11-19 ; 2012-08-08 |
| 状态 | 公开 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/9561]  |
| 专题 | 微电子研究所_智能感知研发中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 于进勇,张晓飞,阎跃鹏,等. 基于N1dB压缩点和N2dB压缩点的三阶交调测试方法, 基于N1dB压缩点和N2dB压缩点的三阶交调测试方法. CN102628897. 2011-12-05. |
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