基于光子晶体自准直效应的光模数转换器量化方法

	基于光子晶体自准直效应的光模数转换器量化方法
	杨成樾; 申华军; 刘新宇; 周静涛; 刘焕明; 张慧慧
	2013-08-21
著作权人	中国科学院微电子研究所
专利号	CN201010504162.0
国家	中国
文献子类	发明专利
英文摘要	本发明公开了一种基于光子晶体自准直效应的光模数转换器量化方法，该方法包括：在二维介质基板中填充一种填充介质，并在介质基板上引入正三角晶格的另一种填充介质，形成光子晶体自准直结构；依据该光子晶体自准直结构的透射谱确定透射率的低点和高点，判定为逻辑状态0或1，实现量化。利用本发明，有效地避免了光子晶体传统线缺陷产生的损耗，有利于实现器件的微型化、低损耗和集成化，并将推进光模数转换器在高速集成化信息技术中的实用化进程，对信息技术的发展具有深远的意义。
公开日期	2012-05-09
申请日期	2010-09-30
语种	中文
内容类型	专利
源URL	[http://159.226.55.106/handle/172511/15984]
专题	微电子研究所_高频高压器件与集成研发中心
作者单位	中国科学院微电子研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	杨成樾,申华军,刘新宇,等. 基于光子晶体自准直效应的光模数转换器量化方法. CN201010504162.0. 2013-08-21.