一种对阻变存储器阵列进行测试的系统

CORC > 微电子研究所 > 中国科学院微电子研究所 > 微电子器件与集成技术重点实验室

	一种对阻变存储器阵列进行测试的系统
	姚志宏; 余兆安; 吕杭炳; 霍宗亮; 谢常青; 刘明
	2018-02-06
著作权人	中国科学院微电子研究所
专利号	CN201310218444.8
国家	中国
文献子类	发明专利
英文摘要	本发明公开了一种对阻变存储器阵列进行测试的系统，包括：探针台，用于承载待测阻变存储器阵列；探针卡，用于实现硬件地址电路与待测阻变存储器阵列的良好连接；硬件地址选择电路，用于完成待测阻变存储器阵列指定端口的地址译码和选通工作；恒压源表，用于向硬件地址选择电路提供直流电压；测量源表，用于提供器件测试所需要的操作电压；控制主机，用于控制整个系统进行不同类型的测试操作，并完成测试结果数据的输出和统计分析。针对具有特殊结构阻变存储器阵列的性能无法评估的问题，本发明利用现有实验设备，不仅低成本地实现了器件性能的测试和评估，而其为后续其它阵列结构器件的测试和检测提供了一种思路和方法。
公开日期	2014-12-17
申请日期	2013-06-04
语种	中文
内容类型	专利
源URL	[http://159.226.55.107/handle/172511/18614]
专题	微电子研究所_微电子器件与集成技术重点实验室
作者单位	中国科学院微电子研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	姚志宏,余兆安,吕杭炳,等. 一种对阻变存储器阵列进行测试的系统. CN201310218444.8. 2018-02-06.