阻变存储器的检测电路及检测设备

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	阻变存储器的检测电路及检测设备
	刘舸; 姬濯宇; 商立伟; 刘兴华; 涂德钰; 王宏; 柳江; 刘明
	2012-10-03
著作权人	中国科学院微电子研究所
专利号	CN200910077521.6
国家	中国
文献子类	发明专利
英文摘要	本发明公开了一种阻变存储器的检测电路及检测设备。检测电路为：设置字线的电压为预定的读取电压并检测阻变存储器中流动的电流值，在合理的选择取样电阻后，通过比较读取电压和取样电阻上的电压，从而读出存储器中的数据。检测设备包括：显示器(1)和控制器(2)；用于产生编程电压、读取电压以及保护电压的电压产生电路(4)；用于配置字线电压(7)和电压比较器参考电压(19)的字线选择开关阵列(6)；用于配置位线电压(9)和电流检测端口(11)的位线选择开关阵列(10)；自适应AD采样电路(13)；以及用于读出阻变存储器数据的检测电路(20)。通过自适应AD采样电路(13)，得到合适的采样电阻，从而高效的读出阻变存储器数据。
公开日期	2010-07-21
申请日期	2009-01-21
语种	中文
内容类型	专利
源URL	[http://10.10.10.126/handle/311049/8410]
专题	微电子研究所_微电子器件与集成技术重点实验室
作者单位	中国科学院微电子研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	刘舸,姬濯宇,商立伟,等. 阻变存储器的检测电路及检测设备. CN200910077521.6. 2012-10-03.