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	Noise Immunity Improvement in High Voltage Gate Driver IC
	Peng R(彭锐); Cai XW(蔡小五); Liu HN(刘海南); Luo JJ(罗家俊); Zhao HT(赵海涛); Tang HJ(汤红菊); Xu DS(许东升); Dongsheng Xu; Xiulong Wu
	2018-10-31
内容类型	会议论文
源URL	[http://159.226.55.107/handle/172511/19114]
专题	微电子研究所_硅器件与集成研发中心
推荐引用方式 GB/T 7714	Peng R,Cai XW,Liu HN,et al. Noise Immunity Improvement in High Voltage Gate Driver IC[C]. 见:.

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