An Effective Method to Compensate TID Induced Degradation on DSOI Structure | |
Zheng ZS(郑中山); Li BH(李彬鸿); Han ZS(韩郑生); Luo JJ(罗家俊); Huang Y(黄杨); Li B(李博); Gao JT(高见头); Zhang G(张刚) | |
2017-10-02 | |
文献子类 | 会议期刊 |
语种 | 英语 |
内容类型 | 会议论文 |
源URL | [http://159.226.55.106/handle/172511/18252] |
专题 | 微电子研究所_硅器件与集成研发中心 |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Zheng ZS,Li BH,Han ZS,et al. An Effective Method to Compensate TID Induced Degradation on DSOI Structure[C]. 见:. |
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