| 34毫米半桥连接功率器件模块动态特性的测试装置 | |
| 高振鹏; 陆江; 朱阳军; 佘超群; 成星 | |
| 2012-11-29 | |
| 著作权人 | 中国科学院微电子研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 英文摘要 | 本实用新型提供了一种34毫米半桥连接功率器件模块动态特性的测试装置，其中，底座上开设有凹槽，用于容置待检测34毫米半桥连接功率器件模块。所述夹具用于与待检测模块的各个极相接触，还在底座上设置有转换接口，用于将夹具上的弹簧引脚与测试仪器相连。并在底座上设置有第一开关和第二开关，其中，第一开关用于控制待检测模块的栅极与源极短路或断路，第二开关用于选择切换待检测模块中第一IGBT模块或第二IGBT模块。采用本实用新型提供的测试装置，通过第一开关以及第二开关实现对不同IGBT模块的切换，且无需对待检测的模块的各个极进行连线，操作简单，测试效率高，除此，减少了引线，进而减少了寄生电容，使测试更加准确。 |
| 状态 | 公开 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://159.226.55.106/handle/172511/15874]  |
| 专题 | 微电子研究所_硅器件与集成研发中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 高振鹏,陆江,朱阳军,等. 34毫米半桥连接功率器件模块动态特性的测试装置. 2012-11-29. |
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