沟槽栅型绝缘栅双极晶体管及其制作方法 | |
赵佳; 朱阳军; 卢烁今; 孙宝刚; 左小珍 | |
2011-06-21 | |
著作权人 | 中国科学院微电子研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 本发明实施例公开了一种沟槽栅型绝缘栅双极晶体管及其制作方法。所述沟槽栅型绝缘栅双极晶体管包括:漂移区;位于漂移区正面内的有效基区;位于漂移区正面内、有效基区两侧的沟槽栅;其中,所述沟槽栅包括:与有效基区相邻的有效沟槽栅和远离有效基区的无效沟槽栅。本发明所提供的沟槽栅型绝缘栅双极晶体管,通过增加其内沟槽栅的个数,进而增加了沟槽栅的总宽度,减小了有效基区宽度与单个元胞宽度之比,从而使得漂移区内的空穴浓度提高,最终导致电导调制效应增强,因此,可降低器件的导通电阻。再有,该沟槽栅型绝缘栅双极晶体管,还能减小电流密度,提高器件的短路安全工作区。 |
公开日期 | 2016-04-06 |
状态 | 公开 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/14645] ![]() |
专题 | 微电子研究所_硅器件与集成研发中心 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 赵佳,朱阳军,卢烁今,等. 沟槽栅型绝缘栅双极晶体管及其制作方法. 2011-06-21. |
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