互补型金属氧化物半导体晶体管器件及其制作方法 | |
王文武; 陈世杰 | |
2010-06-16 | |
著作权人 | 中国科学院微电子研究所 |
专利号 | CN101740570A |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 本发明公开了一种互补型金属氧化物半导体(CMOS)晶体管器件及其制作方法。该CMOS晶体管器件包含硅衬底、第一晶体管和第二晶体管。本发明提供的这种具有主高k栅介质层和超薄高k界面层结构结构的CMOS晶体管器件及其制作方法,有效地解决32纳米以下技术代CMOS器件中由于使用高k电介质而带来的高阈值电压问题。采用本发明的CMOS器件结构,通过在主高k层下方加入一层超薄高k界面层结构来达到有效控制CMOS器件阈值电压的目的。 |
公开日期 | 2010-06-16 |
申请日期 | 2008-11-26 |
语种 | 中文 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/7446] |
专题 | 微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年) |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 王文武,陈世杰. 互补型金属氧化物半导体晶体管器件及其制作方法. CN101740570A. 2010-06-16. |
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