一种替代栅的制备方法
徐秋霞; 李瑞钊
2005-03-31
著作权人中国科学院微电子研究所
专利号CN1841666
国家中国
文献子类发明
英文摘要本发明属于超深亚微米及以下特征尺寸半导体器件制备方法,特别涉 及用于超深亚微米金属栅CMOS制造的一种替代栅制备技术。用金属作栅 电极,可以从根本上消除栅耗尽效应和硼穿透现象,同时获得非常低的栅 电极薄层电阻。本发明采用嵌入式金属栅CMOS工艺(即替代栅制备工艺) 实现了一种新颖的金属栅CMOS技术。在这种嵌入式金属栅CMOS工艺 中,主要关键技术之一是一套替代栅的制备技术,它包括替代栅材料的选 取,精细的替代栅图形的成形,平坦化和替代栅的去除。
公开日期2006-10-04 ; 2010-11-26
语种中文
状态公开
内容类型专利
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/7324]  
专题微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年)
推荐引用方式
GB/T 7714
徐秋霞,李瑞钊. 一种替代栅的制备方法. CN1841666. 2005-03-31.
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