具有场板结构的AlGaN/GaN HEMT的直流特性
魏珂; 刘新宇; 和致经; 吴德馨
刊名半导体学报
2008
卷号29期号:3页码:5,554-558
关键词Algan/gan 高迁移率晶体管 肖特基特性 击穿电压 场板结构
ISSN号0253-4177
英文摘要

研制成功具有场板结构的AlGaN/GaN HEMT器件,对源场板、栅场板器件的性能进行了分析.场板的引入减小了器件漏电和肖特基漏电,提高了肖特基反向击穿电压.源漏间距4μm的HEMT的击穿电压由常规器件的65V提高到100V以上,肖特基反向漏电由37μA减小到5.7μA,减小了一个量级.肖特基击穿电压由常规结构的78V提高到100V以上.另外,还初步讨论了高频特性.

语种中文
公开日期2010-05-27
内容类型期刊论文
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/1920]  
专题微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年)
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
魏珂,刘新宇,和致经,等. 具有场板结构的AlGaN/GaN HEMT的直流特性[J]. 半导体学报,2008,29(3):5,554-558.
APA 魏珂,刘新宇,和致经,&吴德馨.(2008).具有场板结构的AlGaN/GaN HEMT的直流特性.半导体学报,29(3),5,554-558.
MLA 魏珂,et al."具有场板结构的AlGaN/GaN HEMT的直流特性".半导体学报 29.3(2008):5,554-558.
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