含InGaAsPInPDHBT复合式集电区结构设计
程伟; 金智; 于进勇; 刘新宇
刊名半导体学报
2007
卷号28期号:6页码:4,943_946
关键词Inp/ingaashbt
ISSN号0253_4177
产权排序1
英文摘要

为了降低InPDHBT的B—c之间的导带势垒,抑制电流阻挡效应,采用了一种含InGaAP的复合式集电区结构.第一次从理论上分析了此种类型的复合式集电区各个参数对于DHBT性能的影响并给出了优化方案,为此类型的复合式集电区结构的设计提供了理论指导和设计参考.基于文中所述的理论,对文献中的数据进行了分析,得到了令人满意的结果.

语种中文
公开日期2010-05-26
内容类型期刊论文
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/1518]  
专题微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年)
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
程伟,金智,于进勇,等. 含InGaAsPInPDHBT复合式集电区结构设计[J]. 半导体学报,2007,28(6):4,943_946.
APA 程伟,金智,于进勇,&刘新宇.(2007).含InGaAsPInPDHBT复合式集电区结构设计.半导体学报,28(6),4,943_946.
MLA 程伟,et al."含InGaAsPInPDHBT复合式集电区结构设计".半导体学报 28.6(2007):4,943_946.
个性服务
查看访问统计
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。


©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by CSpace