基于隶属概率算法的新产品开发风险因素诊断

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	基于隶属概率算法的新产品开发风险因素诊断
	尚庆琛; 覃正
刊名	统计与决策
	2008-11-10
期号	2008年21期页码:48-50
关键词	新产品开发风险诊断风险因素
ISSN号	1002-6487
DOI	10.13546/j.cnki.tjyjc.2008.21.033
英文摘要	文章从企业风险管理和控制的角度出发,提出了一种利用历史数据对新产品开发中的风险因素进行诊断的方法。该方法通过多因素条件下单因素影响的隶属概率算法,能够帮助企业更客观地找出阻碍新产品开发成功的关键因素,从而使企业在资源有限的条件下,更有针对性地进行持续风险管理和控制。
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语种	中文
内容类型	期刊论文
源URL	[http://10.2.47.112/handle/2XS4QKH4/21858]
专题	上海财经大学
作者单位	上海财经大学信息管理与工程学院
推荐引用方式 GB/T 7714	尚庆琛,覃正. 基于隶属概率算法的新产品开发风险因素诊断[J]. 统计与决策,2008(2008年21期):48-50.
APA	尚庆琛,&覃正.(2008).基于隶属概率算法的新产品开发风险因素诊断.统计与决策(2008年21期),48-50.
MLA	尚庆琛,et al."基于隶属概率算法的新产品开发风险因素诊断".统计与决策 .2008年21期(2008):48-50.