LED静电损伤在老化过程中的变化趋势

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	LED静电损伤在老化过程中的变化趋势; Study on LED Reliability in the Aging Process
	袁晨 ; 代文文 ; 陈楚 ; 严伟
刊名	半导体光电
	2011
关键词	LED 阿伦尼斯 ESD 可靠性
英文摘要	针对发光二极管(LED)的可靠性问题,将抗静电测试与高温老化实验结合,将蓝绿色发光材料制成的二极管分组,测试其经过老化过程后的光色参数变化.实验数据表明,蓝绿色LED裸片与封装样品老化过程中的衰减趋势有一定差异,老化程度与封装材料和发光材料的搭配方式有关.对于未被静电损伤的芯片,经过老化过程后,并没有出现静电损伤被放大导致功能性失效的现象,静电对其参数衰减无明显影响,与单一的老化实验趋势相似.对于经过静电击打后出现异常,无法正常发光的芯片,高温老化实验产生了使其迅速损坏和复原的情况.; 中文核心期刊要目总览(PKU); 中国科技核心期刊(ISTIC); 中国科学引文数据库(CSCD); 0; 3; 339-342; 32
语种	中文
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.pku.edu.cn/handle/20.500.11897/226343]
专题	软件与微电子学院
推荐引用方式 GB/T 7714	袁晨,代文文,陈楚,等. LED静电损伤在老化过程中的变化趋势, Study on LED Reliability in the Aging Process[J]. 半导体光电,2011.
APA	袁晨,代文文,陈楚,&严伟.(2011).LED静电损伤在老化过程中的变化趋势.半导体光电.
MLA	袁晨,et al."LED静电损伤在老化过程中的变化趋势".半导体光电 (2011).