Investigation of Local Heating Effect for 14nm Ge pFinFETs based on Monte Carlo Method | |
Yin, Longxiang ; Jiang, Hai ; Shen, Lei ; Wang, JunCheng ; Du, Gang ; Liu, Xiaoyan | |
2016 | |
英文摘要 | CPCI-S(ISTP); xyliu@ime.pku.edu.cn |
语种 | 英语 |
出处 | International Symposium on VLSI Technology, Systems and Application (VLSI-TSA) |
内容类型 | 其他 |
源URL | [http://ir.pku.edu.cn/handle/20.500.11897/460066] |
专题 | 信息科学技术学院 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Yin, Longxiang,Jiang, Hai,Shen, Lei,et al. Investigation of Local Heating Effect for 14nm Ge pFinFETs based on Monte Carlo Method. 2016-01-01. |
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