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~(127)I_2饱和吸收稳定612nm He-Ne激光器调制频移的实验测量与分析
王庆吉 ; 夏萍 ; 戴俊慧 ; 赵克功
刊名应用激光
1986
关键词I_2 m He-Ne激光 饱和吸收 吸收谱线 调制信号 拍频 交叉干扰 频率间隔 简谐 稳频
英文摘要本文测量了不同调制幅度时 He-Ne/I_2激光器在~(127)I_2R(47)9-2的 r、q、p、o、n 各条超精细饱和吸收谱线上的训制顿移。实验和分析表明,在大调制时,背景和交叉干扰对频移的影响较大,并且频移方向相同;在小调制时,调制信号的非简谐失真则是频移的主要来源。; 0; 06; 241-244
语种中文
内容类型期刊论文
源URL[http://ir.pku.edu.cn/handle/20.500.11897/296553]  
专题信息科学技术学院
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GB/T 7714
王庆吉,夏萍,戴俊慧,等. ~(127)I_2饱和吸收稳定612nm He-Ne激光器调制频移的实验测量与分析[J]. 应用激光,1986.
APA 王庆吉,夏萍,戴俊慧,&赵克功.(1986).~(127)I_2饱和吸收稳定612nm He-Ne激光器调制频移的实验测量与分析.应用激光.
MLA 王庆吉,et al."~(127)I_2饱和吸收稳定612nm He-Ne激光器调制频移的实验测量与分析".应用激光 (1986).
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