~(127)I_2饱和吸收稳定612nm He-Ne激光器调制频移的实验测量与分析 | |
王庆吉 ; 夏萍 ; 戴俊慧 ; 赵克功 | |
刊名 | 应用激光 |
1986 | |
关键词 | I_2 m He-Ne激光 饱和吸收 吸收谱线 调制信号 拍频 交叉干扰 频率间隔 简谐 稳频 |
英文摘要 | 本文测量了不同调制幅度时 He-Ne/I_2激光器在~(127)I_2R(47)9-2的 r、q、p、o、n 各条超精细饱和吸收谱线上的训制顿移。实验和分析表明,在大调制时,背景和交叉干扰对频移的影响较大,并且频移方向相同;在小调制时,调制信号的非简谐失真则是频移的主要来源。; 0; 06; 241-244 |
语种 | 中文 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://ir.pku.edu.cn/handle/20.500.11897/296553] |
专题 | 信息科学技术学院 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 王庆吉,夏萍,戴俊慧,等. ~(127)I_2饱和吸收稳定612nm He-Ne激光器调制频移的实验测量与分析[J]. 应用激光,1986. |
APA | 王庆吉,夏萍,戴俊慧,&赵克功.(1986).~(127)I_2饱和吸收稳定612nm He-Ne激光器调制频移的实验测量与分析.应用激光. |
MLA | 王庆吉,et al."~(127)I_2饱和吸收稳定612nm He-Ne激光器调制频移的实验测量与分析".应用激光 (1986). |
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