Experimental evidence of surface mobile holes on GaNHEMT structure | |
Wen, C. P. ; Wang, J. Y. ; Hao, Y. L. ; Shen, B. | |
2008 | |
英文摘要 | http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcApp=PARTNER_APP&SrcAuth=LinksAMR&KeyUT=WOS:000259299900006&DestLinkType=FullRecord&DestApp=ALL_WOS&UsrCustomerID=8e1609b174ce4e31116a60747a720701 ; Engineering, Electrical & Electronic; Telecommunications; CPCI-S(ISTP); 0 |
语种 | 英语 |
内容类型 | 其他 |
源URL | [http://ir.pku.edu.cn/handle/20.500.11897/293464] |
专题 | 信息科学技术学院 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Wen, C. P.,Wang, J. Y.,Hao, Y. L.,et al. Experimental evidence of surface mobile holes on GaNHEMT structure. 2008-01-01. |
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