CORC  > 北京大学  > 信息科学技术学院
量子指纹的长度与最大错误概率
李鑫 ; 刘田 ; 彭瀚 ; 孙宏涛 ; 朱嘉奇
2006
关键词计算机数学 量子指纹 比特量子
英文摘要本文对量子指纹的长度与最大错误概率进行了探讨。文章比较了单比特量子指纹和多比特量子指纹的最大错误概率,给出了单比特量子指纹相对其它长度量子指纹非最优的充分条件。; 0
语种中文
内容类型其他
源URL[http://ir.pku.edu.cn/handle/20.500.11897/208444]  
专题信息科学技术学院
推荐引用方式
GB/T 7714
李鑫,刘田,彭瀚,等. 量子指纹的长度与最大错误概率. 2006-01-01.
个性服务
查看访问统计
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。


©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by CSpace