量子指纹的长度与最大错误概率 | |
李鑫 ; 刘田 ; 彭瀚 ; 孙宏涛 ; 朱嘉奇 | |
2006 | |
关键词 | 计算机数学 量子指纹 比特量子 |
英文摘要 | 本文对量子指纹的长度与最大错误概率进行了探讨。文章比较了单比特量子指纹和多比特量子指纹的最大错误概率,给出了单比特量子指纹相对其它长度量子指纹非最优的充分条件。; 0 |
语种 | 中文 |
内容类型 | 其他 |
源URL | [http://ir.pku.edu.cn/handle/20.500.11897/208444] ![]() |
专题 | 信息科学技术学院 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 李鑫,刘田,彭瀚,等. 量子指纹的长度与最大错误概率. 2006-01-01. |
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