纳米尺度超低漏电ESD电源钳位电路研究

doi:10.13209/j.0479-8023.2014.103

CORC > 北京大学 > 信息科学技术学院

	纳米尺度超低漏电ESD电源钳位电路研究; Novel Ultra-Low-Leakage ESD Power Clamp Circuit in Nanoscale Process
	王源 ; 张雪琳 ; 曹健 ; 陆光易 ; 贾嵩 ; 张钢刚
刊名	北京大学学报自然科学版
	2014
关键词	静电放电泄漏电流电源钳位电路亚阈值电流 electrostatic discharge (ESD) leakage current ESD power clamp circuit sub-threshold current
DOI	10.13209/j.0479-8023.2014.103
英文摘要	提出一种新型超低漏电ESD电源钳位电路.该电路采用具有反馈回路的ESD瞬态检测电路,能够减小MOS电容栅极-衬底之间电压差,降低电路的泄漏电流,抑制ESD泄放器件的亚阈值电流.65 nm CMOS工艺仿真结果表明,在电路正常上电时,泄漏电流只有24.13 nA,比传统ESD电源钳位电路的5.42 μA降低两个数量级.; 中文核心期刊要目总览(PKU); 中国科技核心期刊(ISTIC); 中国科学引文数据库(CSCD); 0; 4; 595-599; 50
语种	中文
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.pku.edu.cn/handle/20.500.11897/184867]
专题	信息科学技术学院
推荐引用方式 GB/T 7714	王源,张雪琳,曹健,等. 纳米尺度超低漏电ESD电源钳位电路研究, Novel Ultra-Low-Leakage ESD Power Clamp Circuit in Nanoscale Process[J]. 北京大学学报自然科学版,2014.
APA	王源,张雪琳,曹健,陆光易,贾嵩,&张钢刚.(2014).纳米尺度超低漏电ESD电源钳位电路研究.北京大学学报自然科学版.
MLA	王源,et al."纳米尺度超低漏电ESD电源钳位电路研究".北京大学学报自然科学版 (2014).