电子器件制造业面临新的挑战

CORC > 北京大学 > 信息科学技术学院

	电子器件制造业面临新的挑战
	许铭真
刊名	国际学术动态
	1998
关键词	量子电子学化合物半导体可靠性设计可靠性预测华盛顿市美国首都栅介质薄栅氧化层热载流子器件模拟
英文摘要	1997年国际电子器件会议(简称IEDM'97)于1997年12月7～10日在美国首都华盛顿市举行,参加会议的有各国代表2000余人。从特邀讲演的主题和来自美、欧、亚三大洲的主要研究中心的论文内容来看,国际电子器件制造业正面临着许多新的挑战。会上共宣读了215篇论文,其中属于CMOS器件方面的共121篇,占总论文数的1/2以上。其他(包括模型、模拟、量子电子学及化合物半导体、探测器、传感器、显示器、固体器件)有94篇。此次会议有两个重要特点:第一,2千多位代表中,从事CMOS器件与电路可靠性(包括可靠性设计,工艺、可靠性表征技术,可靠性预测等)的研究工作的有1千人以上;第二,在量子电子...; 0; 06; 30-42
语种	中文
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.pku.edu.cn/handle/20.500.11897/183201]
专题	信息科学技术学院
推荐引用方式 GB/T 7714	许铭真. 电子器件制造业面临新的挑战[J]. 国际学术动态,1998.
APA	许铭真.(1998).电子器件制造业面临新的挑战.国际学术动态.
MLA	许铭真."电子器件制造业面临新的挑战".国际学术动态 (1998).