| 用吸收成像法分析玻色-爱因斯坦凝聚的逃逸蒸发冷却 | |
| 夏林 ; 陈帅 ; 周小计 ; 杨帆 ; 马修泉 ; 熊炜 ; 王义道 ; 陈徐宗 | |
| 2004 | |
| 关键词 | 蒸发冷却 成像法 光学厚度 原子数 磁阱 量子信息 实验数据 碰撞率 文中 evaporation |
| 英文摘要 | 本文介绍利用吸收成像法得到的光学厚度来作为是否进行有效蒸发冷却的判据的基本原理。利用蒸发冷却实现 BEC 的过程中,过快或过慢的降低磁阱深度,都会带来大量的原子数损失和低的蒸发冷却效率。; 0 |
| 语种 | 中文 |
| 内容类型 | 其他 |
| 源URL | [http://ir.pku.edu.cn/handle/20.500.11897/178810]  |
| 专题 | 信息科学技术学院 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 夏林,陈帅,周小计,等. 用吸收成像法分析玻色-爱因斯坦凝聚的逃逸蒸发冷却. 2004-01-01. |
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