亚100纳米MOS半导体器件技术探讨 | |
刘文安 ; 黄如 ; 张兴 | |
刊名 | 世界产品与技术 |
2003 | |
关键词 | MOS 短沟效应 栅介质 栅长 按比例缩小 金属栅 反型层 硅栅 电流驱动能力 栅氧化层 |
英文摘要 | 尽管在过去40年中,IC行业的基本元件——MOS管和基本的电路拓扑逻辑——CMOS都没有根本性的革新,但可以相信,在今后15年内,MOS和CMOS仍然是工业界的主流。在可以预见的很长的一段时间内,没有任何新器件能够对MOS管的地位形成真正的挑战。; 0; 09; 30-36 |
语种 | 中文 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://ir.pku.edu.cn/handle/20.500.11897/172563] |
专题 | 信息科学技术学院 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘文安,黄如,张兴. 亚100纳米MOS半导体器件技术探讨[J]. 世界产品与技术,2003. |
APA | 刘文安,黄如,&张兴.(2003).亚100纳米MOS半导体器件技术探讨.世界产品与技术. |
MLA | 刘文安,et al."亚100纳米MOS半导体器件技术探讨".世界产品与技术 (2003). |
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