CORC  > 北京大学  > 信息科学技术学院
亚100纳米MOS半导体器件技术探讨
刘文安 ; 黄如 ; 张兴
刊名世界产品与技术
2003
关键词MOS 短沟效应 栅介质 栅长 按比例缩小 金属栅 反型层 硅栅 电流驱动能力 栅氧化层
英文摘要尽管在过去40年中,IC行业的基本元件——MOS管和基本的电路拓扑逻辑——CMOS都没有根本性的革新,但可以相信,在今后15年内,MOS和CMOS仍然是工业界的主流。在可以预见的很长的一段时间内,没有任何新器件能够对MOS管的地位形成真正的挑战。; 0; 09; 30-36
语种中文
内容类型期刊论文
源URL[http://ir.pku.edu.cn/handle/20.500.11897/172563]  
专题信息科学技术学院
推荐引用方式
GB/T 7714
刘文安,黄如,张兴. 亚100纳米MOS半导体器件技术探讨[J]. 世界产品与技术,2003.
APA 刘文安,黄如,&张兴.(2003).亚100纳米MOS半导体器件技术探讨.世界产品与技术.
MLA 刘文安,et al."亚100纳米MOS半导体器件技术探讨".世界产品与技术 (2003).
个性服务
查看访问统计
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。


©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by CSpace