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电场调制效应对氧化层电流弛豫谱的影响
许铭真 ; 谭长华 ; 刘晓卫 ; 王阳元
刊名半导体学报
1991
关键词弛豫谱 氧化层 俘获截面 电场效应 精确公式 电流比 零级 近似解 二级近似 谱函数
英文摘要本文用单陷阱电荷俘获模型研究了电场调制效应对氧化层电流弛豫谱(Oxide CurtentRelaxation Spectroscopy)——简称 OCRS的影响.给出了精确的 OCRS谱函数及其各级近似表述式;给出了确定陷阱参数(俘获截面,荷心及面密度)的精确公式及各类简化式;给出了各类近似成立的直观实验判据式.对实验结果进行了电场修正,得到了更为满意的结果.; 中国科学引文数据库(CSCD); 0; 05; 273-283
语种中文
内容类型期刊论文
源URL[http://ir.pku.edu.cn/handle/20.500.11897/23531]  
专题信息科学技术学院
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GB/T 7714
许铭真,谭长华,刘晓卫,等. 电场调制效应对氧化层电流弛豫谱的影响[J]. 半导体学报,1991.
APA 许铭真,谭长华,刘晓卫,&王阳元.(1991).电场调制效应对氧化层电流弛豫谱的影响.半导体学报.
MLA 许铭真,et al."电场调制效应对氧化层电流弛豫谱的影响".半导体学报 (1991).
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