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荷电对单壁碳纳米管稳定性的影响
罗骥 ; 吴锦雷
刊名中国科学g辑 物理学力学天文学
2004
关键词碳纳米管 密度泛函理论 荷电 稳定性
英文摘要采用基于密度泛函理论的DMol3程序对荷电的短开口单壁碳纳米管进行了结构优化计算. 结果表明, 体系的总能量随荷电量按抛物线规律变化, 体系的最高占据分子轨道能量随荷电量按线性规律变化, 碳管荷一定量负电荷时总能量最低, 碳管具有正的电子亲合势, 荷一定量负电荷的单壁碳纳米管比电中性的单壁碳纳米管结构更稳定. 荷电量较小时, 单壁碳纳米管的原子结构随荷电量的变化很小, 忽略碳管原子结构的变化仍能得到体系的总能量和最高占据分子轨道能量随荷电量变化的正确定性结果. 荷电量较大时, 开口单壁碳纳米管的端口原子结构首先受到影响, 形成喇叭口形状. 随着荷电量的增加, 碳管端口的原子结构将变得不稳定, ...; 0; 04; 439-447
语种中文
内容类型期刊论文
源URL[http://ir.pku.edu.cn/handle/20.500.11897/23151]  
专题信息科学技术学院
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GB/T 7714
罗骥,吴锦雷. 荷电对单壁碳纳米管稳定性的影响[J]. 中国科学g辑 物理学力学天文学,2004.
APA 罗骥,&吴锦雷.(2004).荷电对单壁碳纳米管稳定性的影响.中国科学g辑 物理学力学天文学.
MLA 罗骥,et al."荷电对单壁碳纳米管稳定性的影响".中国科学g辑 物理学力学天文学 (2004).
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