| 题名 | 干涉成像光谱仪调制度理论研究 |
| 作者 | 陶然 |
| 学位类别 | 硕士 |
| 答辩日期 | 2006-06-02 |
| 授予单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 导师 | 相里斌 |
| 关键词 | 光谱成像技术 干涉成像光谱仪 调制度 |
| 学位专业 | 光学工程 |
| 中文摘要 | 本论文重点研究干涉成像光谱仪的原理及其调制度，主要内容包括： 第一章对成像光谱技术以及干涉成像光谱技术的原理进行了介绍，并引出了调制度的概念，并给出了调制度的判据。 第二章对干涉型成像光谱仪经典的两种类型――时间调制型和空间调制型干涉成像光谱仪的原理和工作流程进行了归纳总结。 第三章分别对Michelson干涉成像光谱仪、Fabry-Perot干涉成像光谱仪、Sagnac型分光空间调制干涉成像光谱仪、双折射型干涉成像光谱仪、Lloyd分光空间调制干涉成像光谱仪、Fresnel双面镜分光空间调制干涉成像光谱仪的原理及其调制度进行了研究和分析。并推导出对各种光谱仪调制度影响最大的几种因素与调制度关系的具体公式，并对各种参数的取值范围作了大致阐述。 第四章介绍了新型的时间空间共同调制的干涉成像光谱仪的概念，其中具有代表性的是LASIS和基于改进型马赫－泽德干涉仪(Mach-Zehnder)的原理的HEIFTS。并推导出这两种光谱仪调制度的具体公式，对HEIFTS详细计算出其光程差及调制度，分析了影响其调制度的主要因素，给出设计这类成像光谱仪的关键技术要求。 第五章对本文介绍的各种光谱仪的调制度进行了综述总结，并根据其结果给出结论. |
| 语种 | 中文 |
| 学科主题 | 光学工程 |
| 公开日期 | 2011-10-09 |
| 页码 | 63 |
| 内容类型 | 学位论文 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/11978]  |
| 专题 | 西安光学精密机械研究所_中国科学院西安光学精密机械研究所(2010年前) |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陶然. 干涉成像光谱仪调制度理论研究[D]. 中国科学院西安光学精密机械研究所. 2006. |
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