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	高分子自组装薄膜的X-射线反射率研究
	黄兰 ; 谭智敏 ; 李秀宏 ; 李明 ; 麦振洪 ; 曹维孝
	2003
关键词	自组装薄膜 高分子材料 X射线反射率 层间界面 薄膜结构
英文摘要	本文以具有不同电子密度的聚电解质自组装成膜,用XRR表征一系列薄膜的结构.研究结果表明,XRR是薄膜结构研究的有效方法,它不仅提供自组装多层膜的有序度,重要的是能揭示多层膜的层间界面信息.; 0
语种	中文
内容类型	其他
源URL	[http://ir.pku.edu.cn/handle/20.500.11897/82598]
专题	化学与分子工程学院
推荐引用方式 GB/T 7714	黄兰,谭智敏,李秀宏,等. 高分子自组装薄膜的X-射线反射率研究. 2003-01-01.

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