半导体光电化学中光强的自动测量

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	半导体光电化学中光强的自动测量
	张天高 ; 蔡生民
刊名	计算机与应用化学 ; 知网
	1993
关键词	半导体光电化学光强自动测量表观量子效率校正曲线电平信号输出格式光度测量三态逻辑光功率
英文摘要	一、概述在半导体光电化学研究中,不同波长的光有不同的光强,因而通常所测某一波长下的光电流,除了与被测电极体系的性质有关外,还包含着两种其它因素的影响,即波长和光强。为了研究单色光波长对光电流的影响,必须扣除光强因素以获得归一化的光电流,因此需要确定所用光源的光强—波长校正曲线。在求算表观量子效率时也需要相应波长下的光强数据。; 中文核心期刊要目总览(PKU); 中国科学引文数据库(CSCD); 0; 03; 234-236
语种	中文
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.pku.edu.cn/handle/20.500.11897/81741]
专题	化学与分子工程学院
推荐引用方式 GB/T 7714	张天高,蔡生民. 半导体光电化学中光强的自动测量[J]. 计算机与应用化学, 知网,1993.
APA	张天高,&蔡生民.(1993).半导体光电化学中光强的自动测量.计算机与应用化学.
MLA	张天高,et al."半导体光电化学中光强的自动测量".计算机与应用化学 (1993).